工件缺陷映射方法、系统、电子设备和计算机存储介质

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工件缺陷映射方法、系统、电子设备和计算机存储介质
申请号:CN202411509011
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119380127A
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了工件缺陷映射方法、系统、电子设备和计算机存储介质,涉及图像处理领域,包括:在实际拍摄点以多个视角拍摄获得的工件的多个X射线图像进行缺陷点标记;通过实际拍摄点位置,确定拍摄工件的三维模型的虚拟拍摄点位置,在虚拟拍摄点以多个视角拍摄三维模型获得的各虚拟图像的中心点分别与多个X射线图像的中心点映射到三维模型上的各映射中心点均重合;基于重合关系,将标记的缺陷点映射至虚拟图像上的映射位置;根据虚拟拍摄点的位置和映射位置,确定缺陷点映射至工件的三维模型的虚拟缺陷点位置。本方法采用数据量少的X射线数据,以快速找到缺陷数据,并且自动完成缺陷在三维模型的映射,减少人为因素影响,提高模型构建效率。
技术关键词
三维模型 映射方法 工件 计算机存储介质 视角 电子设备 存储计算机程序 直线 变量 标记单元 处理器 图像处理 关系 存储器 矩阵 算法 数据 坐标
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