综合良率的确定方法、装置、设备、存储介质及程序产品

本发明实施例提供综合良率的确定方法、装置、设备、存储介质及程序产品。该方法包括：过滤异常芯片，获得多个目标芯片；基于物料编号、测试流程编号、测试阶段编号以及晶圆编号对多个目标芯片进行分组，获得多个第一分组；确定BIN标记对应的每个第一分组的综合良率；基于晶圆编号和BIN标记对BIN标记对应的每个第一分组进行分组，获得多个第二分组；按照测试流程和测试阶段的顺序，以及基于对应的综合良率确定每个第二分组的每个测试阶段、每个测试流程以及全流程的综合良率；基于BIN标记对多个第二分组进行分组，获得多个第三分组；分别确定每个第三分组对应的批次、物料以及产品综合良率。本公开实施例，可以提高确定综合良率的准确率。