空间环境辐射检测方法及相关设备

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空间环境辐射检测方法及相关设备
申请号:CN202411518692
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119493142A
公开日期:2025-02-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种空间环境辐射检测方法及相关设备,涉及辐射检测技术领域,该方法包括:通过互补金属氧化物半导体传感器获取针对空间环境采集的目标图像;对目标图像进行特征提取,得到目标图像的第一环境特征,其中,第一环境特征包括目标图像的暗信号特征、感光范围特征和图像参数退化特征;基于预设映射关系,根据第一环境特征确定空间环境的辐照强度。本申请通过采用互补金属氧化物半导体传感器进行辐射数据的采集、第一环境特征的提取和基于预设映射关系的辐照强度确定,能够降低辐射数据采集设备成本,减轻航天器负载,并精确确定辐照强度。
技术关键词
环境辐射检测方法 互补金属氧化物半导体传感器 退化特征 信号特征 环境辐射检测装置 现场可编程门阵列芯片 粒子 强度 辐射检测技术 循环冗余校验 特征提取模型 图像获取单元 数据采集设备 特征提取单元 关系 样本 处理器 放射源 参数
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