基于分块LMS校准型高精度多级Pipelined_SAR ADC

AITNT
正文
推荐专利
基于分块LMS校准型高精度多级Pipelined_SAR ADC
申请号:CN202411521942
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119519709A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于分块LMS校准型高精度多级Pipelined_SAR ADC包括:第1级ADC子电路对输入信号采样并进行多次循环比较调整,从而输出10位比较结果数字码;第n级ADC子电路对上一级子电路最后一次调整完成之后的电容上极板电压信号进行残差放大再采样,根据采样信号进行多次循环比较调整,从而输出9位比较结果数字码;dither注入校准算法模块根据所有比较结果数字码对所有权重进行校准得到正确权重,再进行正常的ADC采样量化得到线性度比较高的数字码。本发明选择将前5位DAC拆分产生相应的电容选择位,级间缩放电容放宽了对残差放大器的倍数要求,分两次处理校准权重得到正确权重,可以提高线性度。
技术关键词
校准算法 逻辑电路 数字码 残差放大器 信号 模块 分块 误差函数 并联电容 生成伪随机数 输出端 电压 输入端 流水线 计算误差
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号