集成电路中检测总线访问状态的方法、装置、介质和设备

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集成电路中检测总线访问状态的方法、装置、介质和设备
申请号:CN202411524550
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119440950A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本公开实施例公开了一种集成电路中检测总线访问状态的方法、装置、介质和设备,其中,方法包括:检测集成电路的总线中第一通道传输的第一命令;通过第一计数器对所述第一命令的数量进行累计,得到第一累计值;基于所述第一累计值,通过第二计数器对所述第一计数器中累计的第一命令进行表示超时时长的计数,得到第二累计值;基于所述第二累计值与预设阈值之间的关系,确定所述总线的访问状态。本公开实施例实现了对总线第一通道被占用的情况的检测,可及时发现总线占用超时的问题,减少了芯片系统出现死机等严重问题,大大提升了芯片系统的传输性能。
技术关键词
命令 计数器 检测集成电路 标识 链表 芯片系统 关系 电子设备 通道 处理器 可读存储介质 指令 存储器 模块 计算机
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