一种计算芯片的性能测试及筛选方法

本发明提供一种计算芯片的性能测试及筛选方法。所述方法包括：将基准芯片和待测芯片通过HSIO接口联接成一个环路，用于实现基准芯片和待测芯片之间的数据通信；基准芯片和待测芯片根据远程计算机发送的性能测试指令运行相应的性能测试软件，分别得到基准芯片和待测芯片的性能参数，并将所述性能参数上传至远程计算机；远程计算机通过比较基准芯片和待测芯片的性能参数，确定待测芯片是否为合格芯片，剔除不合格的待测芯片。本发明基于基准芯片和待测芯片性能参数的比较对待测芯片进行筛选，可提高筛选精度；通过一个基准芯片同时与多个待测芯片相连，可明显提高待测芯片性能参数测量和芯片筛选的速度。