一种设备状态分析方法、电子设备及存储介质

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一种设备状态分析方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411532527
申请日期:2024-10-30
公开号:CN119442028A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种设备状态分析方法、电子设备及存储介质。该方法包括:获取目标设备的设备数据、提示词生成器以及大语言模型;根据设备数据以及大语言模型,确定模型交互数据;将模型交互数据输入到提示词生成器中,并将提示词生成器生成的第一提示词输入到大语言模型中,得到第一输出结果;根据第一提示词和第一输出结果,对目标设备进行状态分析,得到设备状态分析结果。本发明实施例的技术方案,可以实现自动化的设备状态分析。
技术关键词
设备状态分析方法 大语言模型 分析标签 样本 数据 逻辑 电子设备 可读存储介质 计算机 轨迹 处理器通信 漏洞 存储器 指令
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