VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品

本申请涉及一种VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括：获取VCSEL芯片的RIN测试数据；基于RIN测试数据中表征各频率下的RIN强度的数据点集，得到频率响应曲线图；频率响应曲线图的横轴表示频率大小且纵轴表示RIN强度大小；对频率响应曲线图进行微分处理，得到一阶导数曲线图；将一阶导数曲线图中零点对应的频率，作为VCSEL芯片的理论弛豫振荡频率。采用本方法能够利用VCSEL芯片已有的RIN测试数据确定出VCSEL芯片的理论弛豫振荡频率，提高VCSEL芯片测试过程的数据利用率。