发送电路、接收电路、集成电路芯片和测试方法

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正文
推荐专利
发送电路、接收电路、集成电路芯片和测试方法
申请号:CN202411536424
申请日期:2024-10-30
公开号:CN119517768A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本公开的实施例提供了一种发送电路、接收电路、集成电路芯片和测试方法。该发送电路包括:测试数据发生模块、待测发送模块、测试接收模块、测试数据检测模块,测试数据发生模块被配置为生成第一测试数据;待测发送模块被配置为基于第一测试数据生成第二测试数据;测试接收模块被配置为基于第二测试数据生成第三测试数据;测试数据检测模块被配置为接收第三测试数据,并检测第三测试数据是否与第一测试数据相符,待测发送模块还被配置为接收相位可调节的第一时钟信号,测试接收模块和/或测试数据检测模块还被配置为接收相位可调节的第二时钟信号。该发送电路能够避免影响电路性能,在晶圆测试阶段实现物理层电路的性能测试、筛选和分级。
技术关键词
发送电路 时钟 集成电路芯片 测试方法 测试驱动电路 信号 速率 采样电路 缓冲器 数据处理模块 物理层电路 管芯 电压 端口 信道
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