实现进入芯片测试模式的电路系统

本发明涉及一种实现进入芯片测试模式的电路系统，包括负压检测模块、采样开窗模块和采样锁存模块，负压检测模块的输出端与采样开窗模块相连接，采样开窗模块的输出端与采样锁存模块；负压检测模块用于通过检测某个PIN脚上有无施加负压；采样开窗模块用于在芯片上电复位信号释放后，延时一段时间并生成一个采样开窗信号；采样锁存模块用于延时并将负压检测模块的结果锁存。采用了本发明的实现进入芯片测试模式的电路系统，本发明只需复用任意一个非电源地的PIN脚，在外部加一个负压，就能实现快速地、可靠地进入测试模式，从而有效节省了测试时间，以及节省了芯片面积，具有广泛的实用价值。