一种数字相控阵的幅相偏差测量方法

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正文
推荐专利
一种数字相控阵的幅相偏差测量方法
申请号:CN202411544061
申请日期:2024-10-31
公开号:CN119439086B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种数字相控阵的幅相偏差测量方法,其利用实测复数发射方向图/实测复数接收方向图一次性计算出一维直线阵列或一维共形阵列所有上行链路/所有下行链路幅度偏差百分比和相位偏差值,利用所有一维直线阵列或所有一维共形阵列的幅相偏差来确定二维平面阵列或二维共形阵列的幅相偏差。与现有的幅相偏差测量方法相比,利用所述幅相偏差测量方法对发射方向图/接收方向图进行校准是一种发射方向图/接收方向图的直接校准方法,由于实测发射方向图/实测接收方向图包含了天线单元间互耦效应的影响,其形成的发射方向图/接收方向图与期望的发射方向图/接收方向图偏差较小,且所述方法具有测量时间短、测量效率高、测量成本低等优点。
技术关键词
共形阵列 数字相控阵 天线单元 偏差测量方法 直线 链路 射频信号发射器 天线阵列 信号转换器 双工器 代表 功率放大器 算法 发射系统 接收系统 校准方法
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