半导体测试装置的插座排序方法和半导体测试方法

提供了用于半导体测试装置的半导体测试方法和插座排序方法，该半导体测试装置包括多个插座和存储设备，并且被配置为将半导体芯片装载到相应的插座中并执行测试。插座排序方法包括基于针对每个插座计算的得分向每个插座分配优先级，并将分配的优先级存储在存储设备中。