一种基于多采样率数据蒸馏的工业过程深度监测方法

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一种基于多采样率数据蒸馏的工业过程深度监测方法
申请号:CN202411553278
申请日期:2024-11-01
公开号:CN119511832A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多采样率数据蒸馏的工业过程深度监测方法,本发明在深度残差主元分析模型的框架下,提出了一种基于多采样率数据蒸馏的工业过程深度监测方法。在不增加训练样本数量的情况下,数据蒸馏将多个数据样本信息压缩到一个浓缩的新数据点中,实现多采样率数据的信息提取。因此,相比传统的监测方法,本发明方法不仅能有效利用所有的数据信息,而且利用数据蒸馏技术巧妙地解决了工业数据的多采样率问题。通过一个实际的工业案例,本发明方法的可行性和有效性都得到了很好的评估和确认。
技术关键词
深度监测方法 采样率 残差数据 蒸馏 变量 残差信息 矩阵 集散控制系统 模型库 深度残差 样本 处理器 计算机 可读存储介质 工业生产 存储器 有效性
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