管控芯片版图的方法、电子设备及计算机可读存储介质

本申请公开了一种管控芯片版图的方法、电子设备及计算机可读存储介质。其中，所述方法包括：获取光罩制程中的芯片的掩膜层版图，其中掩膜层版图是由芯片的初始版图经逻辑运算得到的；对掩膜层版图进行工艺弱点问题的检测；以及基于通过检测的掩膜层版图制备所述光罩。通过本申请的方案，基于对掩膜层版图的工艺弱点问题的检测，可以最大程度上的检出版图中的工艺弱点，从而确保所制备的光罩的有效性，进而提升后续利用光罩所制备的芯片的良率。