荧光检测机构

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推荐专利
荧光检测机构
申请号:CN202411556167
申请日期:2024-11-04
公开号:CN119064334A
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本申请涉及荧光检测技术领域,尤其涉及一种荧光检测机构。该荧光检测机构,包括:光源组件、荧光增强组件和成像组件,光源组件用于提供激发光;荧光增强组件包括微流控芯片和光学膜,微流控芯片具有容纳样品的流道,所述光学膜盖设于所述微流控芯片,微流控芯片构造为透光件以将激发光透射至样品;成像组件用于收集样品被激发后产生的荧光并形成样品的荧光图像;其中,光学膜构造为反射激发光并透射荧光。其解决了激发光进入成像光路影响图像质量的技术问题,提高了荧光检测的信噪比。
技术关键词
微流控芯片 检测机构 成像组件 光源组件 光学膜构造 遮蔽件 荧光检测技术 反射掩膜 滤光片 反射光 光纤 光波长 透光 图像 信噪比 光程 壳体
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