一种光MOS继电器的自动测试工装

AITNT
正文
推荐专利
一种光MOS继电器的自动测试工装
申请号:CN202411560321
申请日期:2024-11-04
公开号:CN119619815A
公开日期:2025-03-14
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种光MOS继电器的自动测试工装,包括第一继电器测试芯片、输入电路、输出电路和第二继电器测试芯片;所述输入电路的一端与所述第一继电器测试芯片连接,另一端用以与待测试继电器的输入端连接;所述输出电路的一端用以与所述待测试继电器的多个输出端连接,另一端与所述第二继电器测试芯片连接;所述输出电路上设有多个控制开关,每一所述控制开关均与所述第一继电器测试芯片的控制端口连接,所述控制端口用以控制所述控制开关的启闭,以使所述继电器的不同输出端与所述第二继电器测试芯片导通,实现所述第二继电器测试芯片对所述待测试继电器的直流工作模式和交流工作模式的参数测试。本申请能够显著提升测试效率。
技术关键词
测试继电器 光MOS继电器 控制开关 芯片 支路 工装 输入电路 端口 双开关 输出端 电磁继电器 模式 输入端 控制器 线圈 参数
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号