一种IC封装载板外观缺陷视觉检测方法及系统

本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及一种IC封装载板外观缺陷视觉检测方法及系统，该方法包括：根据各凸包内每个超像素块的区域集中度，所述颜色亮度差异值以及各凸包内每个超像素块中所有连通域的面积，确定各凸包内每个超像素块的区域特征值，确定封装载板灰度图中各像素点的滤波窗口，对滤波后的封装载板进行检测。本申请通过分析IC封装载板上金面区域中的正常纹理区域、氧化缺陷区域以及采集的图像中出现的噪声的特征，确定IC封装载板上每个像素点在滤波算法中的窗口尺寸，提高了对IC封装载板上金面区域中氧化缺陷检测的准确度。