基于灰度识别的陶瓷基复合材料结构无损检测方法

AITNT
正文
推荐专利
基于灰度识别的陶瓷基复合材料结构无损检测方法
申请号:CN202411563401
申请日期:2024-11-05
公开号:CN119477849A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于灰度识别的陶瓷基复合材料结构无损检测方法,包括以下步骤:获得陶瓷基复合材料结构的切片灰度图像;采用形态学膨胀算法对切片灰度图像进行去噪处理,获得处理后的特征图像;识别特征图像,获得轮廓边界分析结果;根据轮廓边界分析结果,获得多组实际特征参数组成切面特征数据集;识别特征图像中典型结构所在的典型结构区域,获得典型结构区域内陶瓷基复合材料结构的典型特征参数,组成典型结构区域特征数据集;将切面特征数据集和典型结构区域特征数据集与陶瓷基复合材料结构的设计特征参数进行对比,获得一致性检验结果。本发明能实现对SiC/SiC复合材料结构的无损检测和一致性检验。
技术关键词
陶瓷基复合材料结构 无损检测方法 图像 切片 盘形结构 膨胀算法 典型 纤维编织结构 轮廓 SiC复合材料 识别特征 尺寸 分布直方图 数据 翻边结构 元素 基准 坐标 Y轴
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号