基于污点源识别的嵌入式设备静态污点分析优化方法及系统

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基于污点源识别的嵌入式设备静态污点分析优化方法及系统
申请号:CN202411566258
申请日期:2024-11-05
公开号:CN119557882A
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及嵌入式系统安全技术领域,特别涉及一种基于污点源识别的嵌入式设备静态污点分析优化方法及系统,对嵌入式设备固件进行预处理,并提取固件前后端二进制可执行文件;利用语义相似性匹配策略识别对前后端二进制可执行文件中的污点关键词进行匹配,获取前后端二进制可执行文件中相似的污点关键词集合;基于污点关键字提取二进制可执行文件中所有用于解析用户输入的函数,依据函数行为特征识别污点引入函数;基于污点关键词集合和污点引入函数生成污点关键词到污点汇聚点的路径,并通过在路径上对污点引入函数进行过滤来获取二进制可执行文件中有效污点源。本发明能够识别出更多SaTC遗漏的隐式污点关键词,同时避免在无效污点源上浪费过多时间。
技术关键词
静态污点分析 关键词 嵌入式设备固件 嵌入式系统安全技术 预训练模型 关键字 文件系统 自然语言 函数调用次数 过滤模块 有向图结构 匹配模块 动态链接库 识别模块 语义 可读存储介质 策略
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