一种低表面张力二氧化硅蚀刻液及其制备方法和应用

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一种低表面张力二氧化硅蚀刻液及其制备方法和应用
申请号:CN202411570699
申请日期:2024-11-06
公开号:CN119081702B
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种低表面张力二氧化硅蚀刻液,其包括氢氟酸、氟化铵、去离子水和添加剂;该添加剂先由马来酸酐、多元醇二烯烃醚和丙烯酰氧基三甲氧基硅烷共聚反应,然后在酸性条件下水解反应得到。本发明的低表面张力二氧化硅蚀刻液,解决了传统蚀刻液在半导体制造过程中存在的蚀刻选择性不高、蚀刻均匀性差、对硅基材腐蚀严重以及容易产生缺陷等问题;通过本发明的蚀刻液,不仅可以有效降低表面张力、提高蚀刻液与硅基材的亲和力,而且还能增强蚀刻过程中对二氧化硅的选择性蚀刻能力,减少对硅基材的腐蚀,实现更加均匀和精确的蚀刻效果,从而提高半导体芯片的生产质量和良率。本发明还公开了一种低表面张力二氧化硅蚀刻液的制备方法和应用。
技术关键词
二氧化硅蚀刻液 二烯烃 马来酸酐 半导体芯片 甲基三甲氧基硅烷 硅烷共聚物 添加剂 多元醇 氢氟酸 丙烯酰氧基丙基 氟化铵 去离子水 丙基三甲氧基硅烷 丙烯酸酯 基材
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