陶瓷封装基板表面粗糙度控制系统及方法

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陶瓷封装基板表面粗糙度控制系统及方法
申请号:CN202411571427
申请日期:2024-11-06
公开号:CN119077449B
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明属于工艺控制技术领域,公开了陶瓷封装基板表面粗糙度控制系统及方法;方法包括:根据预设的粗糙度标准,对基板进行区域划分;对基板表面进行测量,获取基板高程数据;对基板高程数据进行分析,获取每个区域的区域表面粗糙度;根据每个区域的粗糙度标准和区域表面粗糙度,采用自然启发优化算法对每个区域的抛光参数进行优化,并标记为优化参数;根据每个区域的优化参数,对每个区域进行排序;控制抛光设备根据区域顺序,依次调节为对应的优化参数运行;本发明能够有效提高抛光效率,减少资源浪费;有效应对不同区域和不同基板的需求,实现基板表面质量和一致性的提升,从而增强电子器件的可靠性和性能。
技术关键词
粗糙度控制方法 陶瓷封装基板 参数 控制抛光设备 温感 动物摄食量 标记 表达式 计算方法 工艺控制技术 数据 正态分布模型 滑动窗口 标签 控制系统 抛光液
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