一种芯片性能等级预测方法

本发明提供了一种芯片性能等级预测方法，涉及芯片检测技术领域，本发明提供的芯片性能等级预测方法，首先，获取待测试芯片的属性参数；接着，采用特征提取模型对所述待测试芯片的属性参数进行特征提取，得到特征参数；最后，采用极限学习机对所述特征参数进行分类，得到芯片的性能等级预测值；其中，所述特征提取模型是神经网络模型，且所述特征提取模型预先采用预设的参数优化方法进行参数优化，所述极限学习机预先采用重启策略进行训练。本发明实施例通过采用特征提取模型对采集到的芯片的属性参数进行特征提取，再采用极限学习机对提取到的特征参数进行分类，能够快速准确地得到芯片的性能等级。