一种芯片测试模式的保护电路及其控制方法

本发明公开了一种芯片测试模式的保护电路及其控制方法，包含管脚切换安全电路、管脚切换模块、测试模式模块和正常功能模式模块，在测试模式下，芯片的第一管脚输入时钟信号TCLK，芯片的第二管脚输入特定序列信号TDI，管脚切换安全电路将输入的特定序列信号TDI与内部存储的预存序列信号进行匹配，匹配成功则控制管脚切换模块切换测试模式模块和正常功能模式模块与芯片的第一管脚和第二管脚的连接。本发明无需额外增加芯片管脚，就可以确保能够安全进入测试模式，且在正常工作时不会进入测试模式。