一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法

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推荐专利
一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法
申请号:CN202411578254
申请日期:2024-11-07
公开号:CN119515824B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法,该方法包括四维光场数据的获取、微图像阵列的高精度显著目标检测、显著微图像阵列的纹理特征补偿与具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建四个过程,该方法将采集的四维光场数据生成微图像阵列,将其作为高精度显著目标检测的输入,通过重组折叠操作与循环编码译码,充分挖掘跨区域全局显著性特征,生成高精度的显著微图像阵列,再利用分层式纹理特征补偿方法,分别还原与生成区域显著微图像阵列和边缘显著微图像阵列的纹理特征,最终借助透镜阵列对具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建,有效简化了后续计算机视觉任务,并对显著目标提供精细彩色的三维显示。
技术关键词
纹理特征 四维光场信息 注意力 深度卷积生成对抗网络 成像 计算机图形软件 透镜阵列 彩色图像 映射算法 线性单元 序列 多角度 双曲正切函数 编码器 多层感知器 译码模块 计算机视觉
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