一种金属散热片抗辐射干扰调试系统

本发明涉及PCB的技术领域，提供了一种金属散热片抗辐射干扰调试系统，包括PCB板、金属散热片、芯片以及连接件；芯片焊接在PCB板上，金属散热片与PCB板之间通过固定柱连接，其中，金属散热片朝向PCB板的一端面贴合在芯片远离PCB板的一端面上；连接件可拆式设置在固定柱的边缘上；当固定柱边缘安装有连接件时，固定柱与PCB板短路连接；当固定柱边缘未安装有连接件时，固定柱与PCB板断开连接。通过可拆式的连接件，可以快速调整金属散热片与PCB板之间的连接状态，从而灵活应对的辐射干扰问题，无需进行物理剪断固定柱或进行大规模的PCB板更改，改善辐射干扰超标时，固定柱和PCB板之间的连接关系不便调节的问题。