适于嵌入式集成电路测试的数字程控电源及供电测试方法

本发明涉及一种适于嵌入式集成电路测试的数字程控电源及供电测试方法。其包括：基准电压生成单元，程控产生可调的测试基准电压；低压差稳压LDO单元，接收基准电压生成单元加载的测试基准电压，并基于所述测试基准电压向所连接的待测电路DUT提供目标测试电压；隔离采样反馈单元，用于对加载到待测电路DUT电源端的目标测试电压采样，并将采样生成的测试采样电压负反馈至低压差稳压LDO单元，以使得低压差稳压LDO单元在测试采样电压下向待测电路DUT提供稳定的目标测试电压，其中，对目标测试电压采样时，目标测试电压与测试采样电压间相互隔离。本发明可满足嵌入式集成电路的测试需求，降低测试成本，提高测试的精度以及可控性。