用于压接型IGBT电流测量的罗氏线圈精度校核系统及方法

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用于压接型IGBT电流测量的罗氏线圈精度校核系统及方法
申请号:CN202411581924
申请日期:2024-11-07
公开号:CN119535325A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于压接型IGBT电流测量的罗氏线圈精度校核系统及方法,其中,该系统包括若干个并联的导流凸台,该方法采用测量若干个导流凸台与罗氏线圈之间转移阻抗的方式来实现校核。首先,使用信号发生器在第一测试端口施加电压,并测量第二测试端口的电压,根据第一、二测试端口的电压计算散射参数,根据散射参数计算第一测试端口的输入电流,再使用信号发生器测量第三测试端口(罗氏线圈)的电压,根据输入电流和第三测试端口的电压计算转移阻抗,最后将所有导流凸台中第一测试端口与罗氏线圈之间的转移阻抗数据进行分析,评估罗氏线圈的抗干扰能力和测试精度,确保压接型IGBT电流测量结果的可靠性。
技术关键词
罗氏线圈 精度校核方法 校核系统 端口 接地铜排 信号发生器 导流凸台 电流 绝缘体 电压 无感电阻 参数 电阻值 嵌套 芯片 数据
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