一种纳米硅通孔制备方法和芯片封装结构

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一种纳米硅通孔制备方法和芯片封装结构
申请号:CN202411584523
申请日期:2024-11-07
公开号:CN119400754A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种纳米硅通孔制备方法和芯片封装结构,涉及半导体技术领域,该方法包括:获取第一晶圆;通过刻蚀,在所述第一晶圆的第一表面上制备第一深孔;通过控制CVD化学气相沉积的沉积条件,利用介质层材料对所述第一深孔进行不完全填充,得到带有空腔的第二深孔;在所述第一表面上执行IC工艺,制备得到IC器件层;利用第一金属材料,在所述IC器件层的表面制备第一金属层,使所述第一金属层与所述IC器件层中的IC器件之间实现金属连接,且,所述第一金属层覆盖在所述第二深孔上;从所述第一晶圆的第二表面进行减薄,直至露出所述第二深孔的空腔;利用所述第一金属材料,填充所述第二深孔,得到纳米硅通孔结构。
技术关键词
纳米硅 通孔结构 芯片封装结构 金属材料 层材料 晶圆 空腔 气相 介质 氮化硅 氧化硅 气体
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