一种芯片寿命检测方法及寿命延长方法

本发明公开一种芯片寿命检测方法及寿命延长方法，包括以下步骤：步骤一、抽取芯片样本，构建芯片寿命检测系统，通过所述芯片寿命检测系统获取芯片样本的仿真数据集，所述仿真数据集至少包括芯片性能数据集、芯片运行数据集、芯片工作环境数据集和芯片失效数据集，步骤二、构建改进型神经网络模型对检测到的芯片数据信息参数训练学习，以提高芯片寿命检测拟合能力。通过采用构建改进型神经网络模型的技术方案对芯片的寿命进行检测，便于评估芯片在长时间使用和负载情况下的可靠性和性能稳定性，提高芯片寿命检测能力。