一种MCU、DSP首样验证自动化测试系统

本发明涉及自动化测试技术领域，具体涉及一种MCU、DSP首样验证自动化测试系统及方法，包括主控单元，用于接收控制台模块下发的程序并载入存储，确保测试程序的正确接收和存储；连接模块，用于进行数字信号转接或模拟信号转接；控制台模块，通过连接模块与主控及测试单元交换数据，控制电源模块的开关，读取电流数据；设置波形测量参数，获取波形数据，进行汇总、计算、处理和存储；测试单元，提供测试点以进行高精度测量，生成可调幅值和频率的正弦、方波和脉冲信号，将其叠加到直流电压中，并测试叠加后的交流信号输出波形。本发明提高了芯片流片后首样验证的自动化程度，增加了首样验证的数量，缩短了首样验证的时间。