温度异常识别方法、装置、电子设备、芯片及存储介质

本公开提供一种温度异常识别方法和装置、电子设备、芯片及存储介质，方法包括：确定第一温度和第二温度，第一温度为第一模块的第一点位在第一时间点的预测温度，第二温度为第一模块的第一点位在第一时间点的实际温度；根据第一温度和第二温度，确定第一模块在第一时间点的状态标识；在第一模块在第一时间点的状态标识为异常的情况下，根据第一模块在至少一个第二时间点的状态标识，确定第一模块的温度是否异常。可以实现监测充电模块的温度，在模块故障之前发生充电模块的温度异常，避免温度异常引起充电模块无法正常工作甚至损坏。