基于二级控制64极板密集型平面阵列的电容层析成像系统

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基于二级控制64极板密集型平面阵列的电容层析成像系统
申请号:CN202411589590
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119322100A
公开日期:2025-01-17
类型:发明专利
摘要
本发明为基于二级控制64极板密集型平面阵列的电容层析成像系统,包括平面阵列传感器、数据获取单元以及上位机,平面阵列传感器由8x8个均匀分布的极板构成;数据采集单元包括主控芯片、电容测量芯片及多路复用模块,多路复用模块包括四片8x16矩阵模拟开关芯片CH446Q、两片单刀四掷开关CH444G,每个CH446Q的16个模拟信号输入输出X端与平面阵列传感器的16路相连,CH446Q的Y端与两片单刀四掷开关CH444G的S端相连,单刀四掷开关CH444G的Y端与电容测量芯片PCAP02的测量端口相连;采用敏感电极测量法进行电容测量,利用测得的电容值结合灵敏度矩阵利用LBP算法获得重建图像的介电常数分布矩阵。该系统解决了现有平面阵列传感器成像系统检测精度低且检测速度慢的问题。
技术关键词
阵列传感器 单刀四掷开关 电容层析成像系统 模拟开关芯片 灵敏度矩阵 数据采集单元 图像重建算法 多路复用 LBP算法 主控芯片 复合材料无损检测 裂缝缺陷 数据获取单元 孔洞缺陷 UART协议 有限元分析软件 仿真分析 多电极阵列
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