可编程逻辑器件的自动化测试方法及装置

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正文
推荐专利
可编程逻辑器件的自动化测试方法及装置
申请号:CN202411590854
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119535185A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种可编程逻辑器件的自动化测试方法及装置,获取用户上传的测试任务;基于所述测试任务,确定若干待测试可编程逻辑器件以及测试内容;其中,所述待测试可编程逻辑器件与配置底板连接,每一所述配置底板互相连接;基于每一所述待测试可编程逻辑器件,生成配置底板开关指令,并基于所述配置底板开关指令对每一所述待测试可编程逻辑器件进行连接,生成多级测试电路;基于所述测试内容,通过所述多级测试电路,对每一待测试可编程逻辑器件进行同步测试。本发明通过设置配置底板与待测试可编程逻辑器件进行连接,并基于多级测试电路完成每一待测可编程逻辑器件的同步测试,大大提高了多个可编程逻辑器件的测试效率。
技术关键词
可编程逻辑器件 JTAG接口 底板 可编程开关 自动化测试方法 自动化测试装置 指令 测试电路 主控芯片 可编程器件 数据获取模块 编码器 测试模块 报告 软件
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