一种用于QFN封装类微波集成芯片的自动测试装置、系统及方法

本申请提供一种用于QFN封装类微波集成芯片的自动测试装置、系统及方法，包括：测试组件，包括切换矩阵开关以及与所述切换矩阵开关连接的多个测试接口，所述切换矩阵开关用以切换多个所述测试接口与待测芯片的连接；控制组件，与所述测试组件连接，用以控制所述切换矩阵开关切换多个所述连接测试接口与待测芯片的连接，以使待测芯片在与所述测试接口连接时输出测试微波信号；安装座，用于安装所述测试组件和所述控制组件，本申请中的测试装置能够基于所述待测芯片的测试项目信息及引脚信息控制矩阵切换开关连接目标测试接口及目标引脚，从而提高了测试效率。