PCIE转接卡和PCIE设备卡在位检测电路及方法

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PCIE转接卡和PCIE设备卡在位检测电路及方法
申请号:CN202411593170
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119473968A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种PCIE转接卡和PCIE设备卡在位检测电路及方法,该电路包括:PCIE转接卡槽,其中一个槽位通过一根在位信号线与主板的检测端口连接,并通过上拉电阻连接到电源,另一个槽位连接第一下拉电阻;多个PCIE设备卡槽,不同PCIE设备卡槽的第二在位信号引脚在链路上直连,并接入第一下拉电阻,第一在位信号引脚通过不同阻值的第二下拉电阻接地;在位检测模块,根据检测的检测端口的电压值进行PCIE转接卡和PCIE设备卡在位检测。以此解决现有IO资源浪费及增加拓展芯片浪费I2C资源,需要进行地址规避或增加I2C开关芯片,同时还需要占用转接卡的板卡空间的问题。
技术关键词
PCIE转接卡 PCIE设备 底板管理控制器 电阻 电路 模块化连接器 端口 电压 信号线 金手指 模数转换器 主板 芯片 链路 电源 外挂 卡槽
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