电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及图像识别技术领域，尤其涉及电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测图像并进行预处理，得到预处理图像；将预处理图像输入至预构建的缺陷检测模型，基于预确认的卷积权重对预处理图像进行特征提取处理，并基于预确认的融合权重对多个不同尺度的特征图进行融合处理，再采用检测头对融合特征图进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；本申请公开的缺陷检测方法，旨在解决现有的PCB缺陷检测方法中计算复杂度高、实时性差、对小目标检测不敏感的问题；通过引入动态卷积选择机制调整卷积权重，确保模型在处理微小缺陷时具有高精度；通过引入权重自适应机制调整融合权重，可减少冗余信息的计算，大幅提高检测效率。