智能高边芯片诊断电路、方法、电子设备及存储介质

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智能高边芯片诊断电路、方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411594961
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119535156A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种智能高边芯片诊断电路、方法、电子设备及存储介质,其中,智能高边芯片诊断电路包括:智能高边驱动芯片,所述智能高边驱动芯片包括用于控制其工作模式的输入输出引脚;电流监控电路,所述电流监控电路连接至所述智能高边驱动芯片的电流监控引脚;电压检测电路,所述电压检测电路在所述智能高边驱动芯片工处于非工作模式下,当所述电流监控引脚输出电平为低电平时,判断为负载开路故障,当所述电流监控引脚输出电平为高电平时,判断为短路到电源故障。本发明解决了现有技术中,缺乏对智能高边芯片进行故障检测的技术手段的技术问题。
技术关键词
芯片诊断方法 电流监控电路 驱动芯片 电压检测电路 诊断电路 电流感应电阻 非易失性存储介质 非工作 模式 电平 信号 电子设备 短路 计算机程序产品 处理器 故障检测
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