一种面向铜矿浮选过程铜品位的测量方法及装置

AITNT
正文
推荐专利
一种面向铜矿浮选过程铜品位的测量方法及装置
申请号:CN202411597235
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119150921B
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种面向铜矿浮选过程铜品位的测量方法及装置,该方法包括:获取测量数据,并对测量数据进行数据增强处理,以降低测量数据中无标签样本的维度,并基于无标签样本和测量数据中有标签样本构建训练集和测试集;以BiLSTM作为学习器,从训练集的时间序列数据中双向探索价值信息;针对过程数据中存在的冗余变量,对冗余变量进行剔除处理,得到稳健BiLSTM模型,并基于稳健BiLSTM模型对铜矿浮选过程铜品位进行测量。本申请能够克服现有的铜矿浮选过程的测量数据存在无标签样本,离群值和冗余变量的问题实现对铜品位的快速和准确的估计,从而有助于铜矿石浮选过程的控制和优化。
技术关键词
BiLSTM模型 铜矿浮选 无标签样本 数据 变量 测量方法 冗余 机器可读指令 学习器 Sigmoid函数 预测误差 双曲正切函数 表达式 处理器 可读存储介质 执行算法 电子设备 序列
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号