一种芯片引脚接触检测装置及方法

本发明涉及芯片检测设备技术领域，特别涉及一种芯片引脚接触检测装置及方法，包括测试台，所述测试台的上表面可拆卸安装有测试板，所述测试板的四周边缘等距可拆卸安装有若干个弹性导电头，所述测试板的四周设置有能够对待测芯片对接到位监测的监测机构，本发明通过测试板、监测机构、固定机构，固定机构、升降机构、加压机构与测试板上弹性导电头的配合，利用监测机构对待测芯片进行对位位置确认，若出现偏移则利用固定机构对芯片位置进行微调，从而提高对芯片与测试板对接的精度，以减小芯片被压坏的几率产生，再通过加压机构对待测芯片提供一定的压力，以增加芯片引脚与弹性导电头抵触的牢固性。