基于低秩嵌入与多尺度的异常检测方法、装置及电子设备

本发明涉及信息处理技术领域，特别涉及一种基于低秩嵌入与多尺度的异常检测方法、装置及电子设备。方法包括：获取高光谱图像，并对高光谱图像进行预处理，得到原始高光谱图像；利用预设的低秩背景特征提取模型对原始高光谱图像进行特征提取操作，得到低秩背景特征，并利用预先构建的多尺度融合特征提取模型，提取原始高光谱图像的全局特征和局部特征；对低秩背景特征、全局特征和局部特征进行整合处理，将得到的目标重建背景图像与高光谱图像进行比较，识别异常区域。由此，通过采用低秩背景特征提取与多尺度融合特征提取实现高光谱图像灾害监测，解决了现有检测方法检测过程耗时长、效率低、精度低的问题，具有自动化、高精度、快速高效等优点。