一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质

本申请公开了一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质，涉及芯片测试技术领域。应用于自动化测试设备，该方法包括：为待测试芯片配置通用输入/输出接口；根据所述通用输入/输出接口中的测试信号执行芯片测试模式，并获取所述自动化测试设备发送的串行数据；按照预设数据格式确定所述串行数据的数据流方向，并基于所述数据流方向将所述串行数据写入修调寄存器。通过本申请的技术方案，可以简化测试方法，缩短测试时间。