摘要
本发明公开了一种芯片宏单元布局紧凑度的评估方法、系统、电子设备及存储介质,应用于集成电路布图规划技术领域。该方法包括:获取宏单元摆放完成的布局区域;所述布局区域包括若干个模块;依次遍历每个模块,并通过计算所述模块的可用面积获得所述模块的评估值;将所有所述模块的评估值累加,得到布局紧凑度指标值。本发明通过累加每个模块四周紧凑度的评估值作为最终整体布局紧凑度的指标值,这种方法综合考虑了各模块的布局效率,为评估紧凑度提供一个更加全面准确的量化指标,确保了评估结果的可靠性。
技术关键词
布局
模块
集成电路布图规划
评估系统
顶点
芯片
电子设备
可读存储介质
存储器
处理器
程序
指令
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