测试装置及测试方法

本申请公开了一种测试装置及测试方法，属于测试领域。本申请提供的测试装置包括：目标芯片、芯片测试座、电压采样模块和目标电阻；所述目标芯片与所述芯片测试座连通，所述芯片测试座与所述目标电阻连接；所述电压采样模块设置在所述芯片测试座与所述目标电阻之间，且所述电压采样模块与所述目标电阻并联连接；所述电压采样模块的输出端与所述目标芯片连接；其中，所述目标芯片用于检测所述目标芯片与所述芯片测试座之间的接触阻抗；所述接触阻抗基于所述目标芯片输出的第一电压信号、所述电压采样模块检测到的第二电压值以及所述目标电阻确定得到。