晶体参数确定方法和装置

本申请涉及一种晶体参数确定方法和装置。该方法包括：控制OCT设备对被检眼进行扫描，以得到包含该被检眼的目标图像；对该目标图像进行图像处理，以得到该被检眼的角膜顶点、晶体前表面和晶体后表面；根据该角膜顶点、该晶体前表面和该晶体后表面确定该被检眼的晶体参数。采用本申请提供的晶体参数确定方法可以有效的提高晶体参数的准确性。