基于统计推断方法的全面可解释sketch性能评估方法和装置

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基于统计推断方法的全面可解释sketch性能评估方法和装置
申请号:CN202411615324
申请日期:2024-11-13
公开号:CN119496723A
公开日期:2025-02-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于统计推断方法的全面可解释sketch性能评估方法和装置,该方法针对网络测量领域概要数据结构sketch,该方法基于用户给定的用于评估sketch性能的精度指标集合,确认所需采集的流级别特征,对运行时工作负载进行流级别采样;用基于重抽样原理的Bootstrap方法,结合蒙特卡洛方法,通过样本构建流级别特征分布从而估计精度指标值及其置信区间。本发明在面对需要同时保障全面性和可解释性的评估需求时,实现了多维度精度指标可分析,并保证中间过程和评估结果可置信,基于更全面的精度指标,对sketch进行可信解释的性能评估,实现精度指标的精确估计。
技术关键词
统计推断方法 性能评估方法 指标 采样器 精度 键值 权重模型 追踪器 样本 概要数据结构 性能评估装置 链表 蒙特卡洛方法 节点 存储单元 数据处理器 存储器 程序
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