一种电子元件循环测试装置及方法

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一种电子元件循环测试装置及方法
申请号:CN202411618298
申请日期:2024-11-13
公开号:CN119667215A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种电子元件测试装置,针对具有双向传输特性的电子元件进行适应性设计,通过设置至少2个供电接口,与待测元件上的至少2个电源端口依次连接,并且配置为根据待测元件的测试需求切换至少2个供电接口的电源输入输出模式,同时检测至少1个电源端口的输出电压,从而实现对于具有双向传输特性的电子元件的测试。
技术关键词
循环测试装置 待测元件 测试板卡 主控芯片 接口 电子元件测试装置 时钟模块 模式 循环测试方法 端口 母板 电源模块 电压 子板 曲线 信号
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