闪存控制器芯片多核同步性能测试方法

一种闪存控制器芯片多核同步性能测试方法，涉及闪存技术领域，采用多个测试核按照一定同步机制给闪存控制器驱动核（后端核）发命令的方式代替单个测试核发命令，可提升测试激励的压力密度，减少4K随机读等性能指标的测试过程中因对处理器算力不足引入的误差，当测试程序固件运行在多个处理器核上时，能缓解单个核压力不足的问题。