芯片运行可靠性确定方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种芯片运行可靠性确定方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，涉及芯片可靠性运行分析技术领域，可提高芯片运行可靠性分析结果的准确性。方法包括：获取芯片历史运行数据，对所述芯片的历史运行数据进行特征提取，得到反映所述芯片的运行状态和芯片性能的第一芯片特征；获取所述芯片的实时运行数据，将所述第一芯片特征与所述芯片的实时运行数据进行特征交叉，得到反映所述芯片的运行综合性能的第二芯片特征；利用所述第二芯片特征对机器学习模型进行模型训练，在满足训练结束条件时得到所述芯片对应的训练好的运行可靠性预测模型；基于所述训练好的运行可靠性预测模型获取所述芯片的芯片运行可靠性预测结果。