一种SMT表面缺陷检测方法

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一种SMT表面缺陷检测方法
申请号:CN202411622562
申请日期:2024-11-14
公开号:CN119579518A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种SMT表面缺陷检测方法,具体包括以下步骤:S1、样本准备:从贴片元件的模板图像集中随机选择一张模板图像,该模板图像应是无缺陷的标准图像,从贴片元件的待测图像集中随机选择一张待测图像,本发明涉及缺陷检测技术领域。该SMT表面缺陷检测方法,通过融合深度特征和语义差异映射特征,能够更准确地识别贴片元件的缺陷,降低误检率和漏检率,能够实现自动化检测,无需人工复判,大大提高了检测效率,满足了高速生产的现代化产线的要求,通过减少人工复判的需求,本发明能够显著降低人工成本,提高企业的经济效益,检测方法适用于不同尺寸、类型和形状的贴片元件,具有较强的适应性和灵活性。
技术关键词
表面缺陷检测方法 贴片元件 融合特征 模板 融合深度特征 深度卷积神经网络 缺陷检测技术 编码器 图像采集设备 语义层面 解码器 样本 上采样 尺寸 对比度 策略 标签
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