一种老化分析方法及相关设备

本申请实施例提供了一种老化分析方法及相关设备，其中，所述老化分析方法，包括：获取待时序检查的设计对象，所述设计对象由多个标准单元组成；基于老化单元库，确定所述标准单元的延时老化率，所述延时老化率用于表征所述标准单元因老化而导致的信号传输延迟时间增加的比例；其中，所述老化单元库包括多个子老化单元库，所述子老化单元库用于表征一预设老化机制下标准单元的延时老化率，其中，不同子老化单元库对应不同的老化机制；基于所述延时老化率，对所述设计对象进行老化后的时序分析并得到报告。本申请实施例能够实现对芯片老化程度的准确评估。